諾瓦星云科技:MiniLED校正解決方案
來(lái)源:諾瓦科技 編輯:swallow 2020-09-08 16:44:59 加入收藏
隨著越來(lái)越多的LED廠家進(jìn)入MiniLED領(lǐng)域,更小的點(diǎn)間距依賴新的封裝工藝來(lái)提升顯示屏的可靠性和防護(hù)性,其中COB和四合一就是一個(gè)主要的趨勢(shì)。這一趨勢(shì)在為觀眾更好的觀看體驗(yàn)、提升屏的可靠性和防護(hù)性能、更加節(jié)能之外,也給行業(yè)帶來(lái)新的挑戰(zhàn)。
一方面,新工藝更新之后,傳統(tǒng)校正技術(shù)難以滿足均勻性要求。如下圖所示,COB校正后依然會(huì)存在明顯色塊。
為什么會(huì)存在這一問(wèn)題?
在SMD表貼燈珠的時(shí)期, 燈的點(diǎn)間距較大,燈對(duì)燈的亮度干擾相對(duì)有限。另外也沒(méi)有膠體的反射干擾,這樣我們就可以采集到相對(duì)準(zhǔn)確的亮度值。
而在MiniLED時(shí)代,點(diǎn)間距越來(lái)越小,燈與燈的物理位置越來(lái)越近,導(dǎo)致燈與燈的亮度相互串?dāng)_明顯,圖像模糊重疊等現(xiàn)象愈發(fā)明顯。 除此之外,新工藝中表面膠體的封裝,導(dǎo)致光在傳遞中二次反射影響,造成光源干擾的加劇,對(duì)采集燈珠亮色度的準(zhǔn)確性造成了影響。
另一方面,低灰表現(xiàn)和高灰表現(xiàn)有顯著差異,低灰段不一致性問(wèn)題凸顯。
為什么會(huì)存在這一問(wèn)題?
低灰階效果和我們的電路設(shè)計(jì)、芯片的選型、硬件控制都有關(guān)聯(lián);低灰系數(shù)又極易受到以上條件的輕微影響而實(shí)現(xiàn)不準(zhǔn)確,導(dǎo)致效果變差。
PWM驅(qū)動(dòng)帶來(lái)的低灰量化誤差
MiniLED校正解決方案
1、采用科學(xué)級(jí)相機(jī),提高測(cè)量精度。
采用符合人眼感知特性的CIE-XYZ濾片,反映人眼真實(shí)感知。
CIE-XYZ科學(xué)級(jí)相機(jī)
CIE-XYZ濾片光譜曲線
常規(guī)相機(jī)處于成本的考慮,使用簡(jiǎn)易的Bayer濾片,Bayer濾片光譜不穩(wěn)定,還存在毛刺過(guò)渡不平滑,這會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的光譜測(cè)量誤差。
諾瓦打造的CIE-XYZ科學(xué)級(jí)相機(jī)的關(guān)鍵就在于CIE-XYZ濾片技術(shù)。諾瓦通過(guò)多年的濾片設(shè)計(jì)創(chuàng)新,持續(xù)的迭代,推出LED測(cè)量設(shè)計(jì)的濾片標(biāo)定算法,確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。CIE-XYZ科學(xué)級(jí)相機(jī)選用多組轉(zhuǎn)輪,多次測(cè)量,得到符合人眼特性的測(cè)量數(shù)據(jù),使得校正后更加貼近人眼感知的畫面效果。
2、改進(jìn)校正流程,增加消除混光處理。
諾瓦對(duì)采集圖像二次處理、還原自身亮度數(shù)據(jù),重新計(jì)數(shù)真實(shí)亮度下的校正數(shù)據(jù)。提升屏體的均勻性,使得顯示效果更加細(xì)膩,這就是MiniLED全新的混光消除技術(shù)。
3、通過(guò)全灰階校正技術(shù),提升灰階表現(xiàn)精度。
通過(guò)光槍CA-410采集灰階數(shù)據(jù),再通過(guò)灰階修正工具計(jì)算修正系數(shù),對(duì)各灰階進(jìn)行補(bǔ)償,改善非線性響應(yīng),最終通過(guò)硬件編碼,在諾瓦A8s、A10s Plus接收卡上使得灰階顯示臺(tái)階問(wèn)題得到優(yōu)化。
我們來(lái)看一組低灰階實(shí)拍圖,看看在全灰階校正前后的對(duì)比效果,我們會(huì)發(fā)現(xiàn)校正后的顯示屏畫面相較于校正前,麻點(diǎn)、色塊、偏色的問(wèn)題均得到了顯著改善,均勻性和畫面細(xì)膩度大幅提升。
這就是諾瓦推出的MiniLED校正解決方案。通過(guò)CIE-XYZ科學(xué)級(jí)校正相機(jī),配合貼近人眼的XYZ濾片,確保MiniLED采集的準(zhǔn)確性。全灰階校正通過(guò)逐級(jí)灰階測(cè)量與優(yōu)化,解決灰階實(shí)現(xiàn)不準(zhǔn)的難題。
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